William Q. Meeker教授为学部师生带来“基于JMP的可靠性数据分析”系列讲座

美国爱荷华州立大学(Iowa State University)统计系的William Q. Meeker教授应管理与经济学部邀请，于2014年3月19日至21日，在25楼三层C教室举办了题为“基于JMP的可靠性数据分析”的系列讲座。本次讲座吸引了学部教师及本、硕、博学生逾百人到场，更有来自上海汽车集团、JMP等企业的工程师怀着浓厚的兴趣前来聆听讲座。

William Q. Meeker教授主要从事可靠性数据分析方面的研究、教学和咨询工作。曾任期刊Technometrics的主编，目前为美国统计学会(ASA)、美国质量协会(ASQ)的资深会员，获得包括ASQ Shewhart奖、W. G. Hunter奖在内的十余项奖项。在Technometrics, The American Statistician, Applied Statistics, Communications in Statistics等学术期刊上发表论文200余篇，著有Statistical Methods for Reliability Data, Statistical Intervals: A Guide for Practitioners等书籍，其中Statistical Methods for Reliability Data一书曾获“工程卓越与变革”奖。

此次讲座以可靠性试验的计划和可靠性数据的分析为主要内容，Meeker教授以实际应用中的案例为切入点，系统介绍了可靠性的概念、可靠性数据的类型以及常用的分析方法与工具，并从概念、模型、实例、数据分析及结果解释等几方面入手，对寿命试验和加速寿命试验、退化试验、加速破坏性退化试验一一进行了详细介绍。讲解过程中，Meeker教授还现场演示了如何利用JMP软件对获得的试验数据进行分析，使同学们能够更快速地掌握软件的使用方法。Meeker教授还分享了自己最新的研究成果并热情地回答了同学们的提问。

Meeker教授幽默风趣的谈吐，形象生动以及深入浅出的讲解不时引起同学们的掌声和欢呼声。讲座结束后，同学们纷纷表示此次的讲座使他们获益良多。